GJB 5023.2-2003 材料和涂层反射率和发射率测试方法 第2部分：发射率
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ID： |
4387858AFFDC4989AE5B7600000031BC |
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文件大小(MB)： |
0.42 |
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页数： |
8 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-14 |
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中华人民共和国国家军用标准,FL9900 GJB 5023.2-2003,材料和涂层反射率和发射率测试方法,第2部分:发射率,The method of measuring reflectivity and emissivity for material and coating,Part2: Emissivity,2003-07-21 发布2003-10-01 实施,中国人民解放军总装备部批准,GJB 5023.2-2003,刖 e,GJB 5023-2003《材料和涂层反射率和发射率测试方法》分为两部分:,第1部分:反射率；,第2部分:发射率心,本部分是GJB 5023 - 2003的第2部分口,本部分由中国人民解放军总装备部电子信息基础部提出口,本标准由中国人民解放军总装备部技术基础管理中心归口口,本部分起草单位:中国航天科工集团第二。七所、中科院安微光机所、中国航空综合技术研究所口,本部分主要起草人:胡文智、朱晓芳、马勇辉、肖健、王桂华0,GJB 5023.2-2003,材料和涂层反射率和发射率测试方法,第2部分:发射率,1适用范,s■ a 本部分规定在实验室条件下，利用等温辐射法对军用表面材料(含涂层)在223K-700K温度范,内.光谱范围为2rLm.l/zm波段内、被测样品表面法线与观察视轴夹角0,~45”范围内的红外光谱发射,率测试方法口,本部分适用于军用目标一导弹、卫星、飞机、舰船、车辆等材料和涂层的光谱发射率测量口,2术语和定义,下列术语和定义适用于本部分口,2 J 光谱辐射通量 spectral radiant flux,单位波长间隔的辐射通量，单位为:WptmT 口,2.2 光谱辐射出射度 spectral radiant exitance,单位波长间隔的辐射出射度，单位为:WnT2Km「I,2.3 光谱发射率 spectral emissivity,一个辐射源的光谱辐射出射度与具有同一温度的黑体辐射源的光谱辐射出射度之比口,2.4 光谱辐射亮度 spectral radiance,单位波长间隔的辐射亮度,单位为:Wm-sr.,3测试原理,实际物体的光谱发射率是该物体的光谱辐射出射度与具有相同温度的黑体的光谱辐射出射度的比,值,即:,门⑺= Mk/T),⑴,式中,M式T),Mto(T),外⑺一,T温度时，实际物体的光谱辐射出射度;,T温度时，黑体的光谱辐射出射度;,T温度时，实际物体的光谱发射率口,对于朗伯体表面，其辐射出射度为朝亮度的兀倍，即M/T) = ttL式T);因此(1)式也可用辐射亮度,表ZK:,⑵,式中：,UT),“(T),9),温度为T时,实际物体的光谱辐射亮度;,温度为丁时,黑体的光谱辐射亮度;,温度为T时，实际物体的光谱发射率口,实际环境中,任何物体向空间发射出的能量均可表述为两部分，一部分是物体的自身辐射，另一部分,是物体表面反射外部环境的辐射口因此,对于温度为T、光谱发射率为公(丁)的不透明物体表面，处于,1,GJB 5023.2-2003,涌；度为T?的环境中时，其表面的等效黑体光谱辐射亮度为:,L式丁)= s(T)L：(T) + c(T)L：(Tj .. (3),对于不透明物体，C(T) = 1-公(丁)，因此,(3)式又可写成工,LX(T)= ex(T)Lj(T) + (1 — e1(T))L：(Tj .. (4),式中:,e/T) 温度为T时，实际物体表面的光谱发射率;,L；(T)—温度为丁时.黑体的光谱辐射亮度；,L；( TJ —温度为号的环境辐射对该物体表面产生的光谱辐射亮度;,C(T)——温度为了时,实际物体表面的光谱反射率；,LX(T)^~?温度为丁时，实际物体表面的光谱羯射亮度;,为了测量实际物体温度为T时的表面光谱发射率，建立一个测量装置，使实际物体(被测样品)、高,发射率参考辐射体(参考黑体)、低发射率朗伯参考辐射体(低发射率参考体)具有相同的温度T，并且处,于温度为T.的环境中.此时参考黑体表面光谱辐射发射率为九(丁)，光谱辐射亮度为:,Lb(T)= eb(T)L；(T) + (1 - eb(T))L：(Tc) ⑸,低发射率参考体表面光谱辐射发射率为q(T)、光谱辐射亮度为:,Lr(T) = er(T)L；(T) + (l-er(T))LJ(Te) (6),式中：,eb(T)——温度为丁时，参考黑体的光谱发射率；,3(丁)——温度为T时，低发射率参考体的光谱发射率;,L；(T)—温度为T时，黑体的光谱辐射亮度;,温度为「的环境粗射对该物体表面产生的光谱辐射亮度;,Lb(T)——温度为T时,参考黑体的光谱辐射亮度；,Lt(T)——温度为T时,低发射率参考体的光谱辐射亮度,被测物体表面光谱发射率为：,6x(T)=:监三/加式丁)-孰(7))+ er(T) ⑺,4测试内容,采用光谱粗射计测量处于同一温度的被测样品表面、参考黑体%低发射率参考体表面光谱辑射亮度,即：,LX(T)——温度为了时，被测样品表面的光谱辑射亮度;,Lb(T),Lr(T),温度为7时,参考黑体的光谱辐射亮度;,温度为T时.低发射率参考体的光谱辐射亮度,根据(7)式即可计算得到被测物体表面的光谱发射率s(T) o其中(7)式中的参考黑体的光谱发射,率.(T)、低发射率参考体的光谱发射率4(丁)是事先确定的，具有可朔源性的已知物理量，光谱辐射,计是经过计量单位标定的仪器口,5测试设备,5J设备概述,材料及涂层光谱发射率测兔装置主要由加热器(冷却器)、真空冷环境、控制测量单元三部分组成口,测量装置框图见图lo材料及涂层光谱发射率测量装置技术指标如……
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